Standard IEC standard · IEC 60749:1996

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Status: Upphävd

· Ersätts av: IEC 60749-20:2002 , IEC 60749-10:2002 , IEC 60749-25:2003 , IEC 60749-19:2003 , IEC 60749-36:2003 , IEC 60749-22:2002 , IEC 60749-5:2003 , IEC 60749-2:2002 , IEC 60749-12:2002 , IEC 60749-21:2004 , IEC 60749-13:2002 , IEC 60749-14:2003 , IEC 60749-31:2002 , IEC 60749-32:2002 , IEC 60749-8:2002 , IEC 60749-1:2002 , IEC 60749-15:2003 , IEC 60749-7:2002 , IEC 60749-11:2002 , IEC 60749-3:2002 , IEC 60749-4:2002 , IEC 60749-6:2002 , IEC 60749-9:2002 , IEC 60749-24:2004 Tillägg: IEC 60749:1996/AMD2:2001 , IEC 60749:1996/AMD1:2000
Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749:1996

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 7 085 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 7 085 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ
Omfattning
Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properti

Ämnesområden

Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01)

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749:1996

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 7 085 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 7 085 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska Franska

Framtagen av: IEC

Internationell titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Artikelnummer: STD-123339

Utgåva: 2

Fastställd: 1996-10-28

Antal sidor: 95

Ersätts av: IEC 60749-20:2002 , IEC 60749-10:2002 , IEC 60749-25:2003 , IEC 60749-19:2003 , IEC 60749-36:2003 , IEC 60749-22:2002 , IEC 60749-5:2003 , IEC 60749-2:2002 , IEC 60749-12:2002 , IEC 60749-21:2004 , IEC 60749-13:2002 , IEC 60749-14:2003 , IEC 60749-31:2002 , IEC 60749-32:2002 , IEC 60749-8:2002 , IEC 60749-1:2002 , IEC 60749-15:2003 , IEC 60749-7:2002 , IEC 60749-11:2002 , IEC 60749-3:2002 , IEC 60749-4:2002 , IEC 60749-6:2002 , IEC 60749-9:2002 , IEC 60749-24:2004