Varukorg Minimera varukorgen
SEK SEK EUR EUR |
Rabatt | - EUR | - SEK |
Summa | EUR | SEK |
Frakt | EUR | SEK |
Moms | EUR | SEK |
Totalt | EUR | SEK |
Status: Upphävd
· Ersätts av: IEC 60749-20:2008Papper
Papper
Språk: Engelska Franska
Framtagen av: IEC
Internationell titel: Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Artikelnummer: STD-569697
Utgåva: 1
Fastställd: 2003-08-13
Antal sidor: 0
Korrigerar: IEC 60749-20:2002
Ersätts av: IEC 60749-20:2008