Varukorg Minimera varukorgen
SEK SEK EUR EUR |
Rabatt | - EUR | - SEK |
Summa | EUR | SEK |
Frakt | EUR | SEK |
Moms | EUR | SEK |
Totalt | EUR | SEK |
Status: Gällande
Språk: Engelska Franska
Framtagen av: IEC
Internationell titel: Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Artikelnummer: STD-565949
Utgåva: 1
Fastställd: 2003-08-12
Antal sidor: 0
Korrigerar: IEC 60749-2:2002