Standard IEC standard · IEC 60749-32:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

Status: Gällande

· Korrigeras av: IEC 60749-32:2002/COR1:2003 Tillägg: IEC 60749-32:2002/AMD1:2010

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-32:2002

Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang

Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj

Pris: 720 SEK

PDF

Pris: 720 SEK

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Omfattning

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device.

The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Ämnesområden

Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01)

Rabatt	- EUR	- SEK
Summa	EUR	SEK
Frakt	EUR	SEK
Moms	EUR	SEK
Totalt	EUR	SEK

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

Ämnesområden

Produktinformation

Inom samma område