Standard IEC standard · IEC 60749-6:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Status: Upphävd

· Ersätts av: IEC 60749-6:2017 Korrigeras av: IEC 60749-6:2002/COR1:2003
Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-6:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 360 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 360 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ
Omfattning
Aims at testing and determining the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive.

The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Ämnesområden

Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01)

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-6:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 360 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 360 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska Franska

Framtagen av: IEC

Internationell titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Artikelnummer: STD-559175

Utgåva: 1

Fastställd: 2002-04-12

Antal sidor: 7

Ersätter: IEC PAS 62205:2000 , IEC 60749:1996/AMD2:2001 , IEC 60749:1996/AMD1:2000 , IEC 60749:1996

Ersätts av: IEC 60749-6:2017