Standard IEC standard · IEC 60749-6:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Status: Upphävd

· Ersätts av: IEC 60749-6:2017
Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-6:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 0 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 0 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ
Omfattning
Modification of the validity date: now put at 2007.

Ämnesområden

Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01)

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-6:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 0 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 0 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska Franska

Framtagen av: IEC

Internationell titel: Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Artikelnummer: STD-565954

Utgåva: 1

Fastställd: 2003-08-12

Antal sidor: 0

Korrigerar: IEC 60749-6:2002

Ersätts av: IEC 60749-6:2017