Standard Svensk standard · SS-EN 62374-1

Halvledare - Provning av tidsberoende dielektriskt genombrott (TDDB) i dielektriska skikt

Status: Gällande

Köp denna standard

Standard Svensk standard · SS-EN 62374-1

Halvledare - Provning av tidsberoende dielektriskt genombrott (TDDB) i dielektriska skikt
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 191 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 191 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Ämnesområden

Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01) Dioder (31.080.10) Tyristorer (31.080.20) Transistorer (31.080.30) Övrigt (31.080.99)

Köp denna standard

Standard Svensk standard · SS-EN 62374-1

Halvledare - Provning av tidsberoende dielektriskt genombrott (TDDB) i dielektriska skikt
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 191 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 191 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska

Framtagen av: SEK SVENSK ELSTANDARD

Internationell titel: Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Artikelnummer: STD-3335587

Utgåva: 1

Fastställd: 2013-03-15

Antal sidor: 16