Standard IEC standard · IEC 60749-34:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Status: Upphävd

· Ersätts av: IEC 60749-34:2010
Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-34:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 360 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 360 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ
Omfattning
Used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors. This happens when low-voltage operating biases for forward conduction (load currents) are periodically applied and removed causing rapid changes of temper

Ämnesområden

Halvledarkomponenter (31.080) Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01)

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-34:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 360 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 360 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska

Framtagen av: IEC

Internationell titel: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Artikelnummer: STD-566564

Utgåva: 1

Fastställd: 2004-03-10

Antal sidor: 8

Ersätter: IEC PAS 62206:2000

Ersätts av: IEC 60749-34:2010