Standard IEC standard · IEC 61000-4-20:2003

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides

Status: Upphävd

· Ersätts av: IEC 61000-4-20:2010 Tillägg: IEC 61000-4-20:2003/AMD1:2006

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 61000-4-20:2003

Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang

Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj

Pris: 4 995 SEK

PDF

Pris: 4 995 SEK

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Omfattning

Relates to emission and immunity test methods for electrical and electronic equipment using various types of transverse electromagnetic (TEM) waveguides. This includes open (for example, striplines and EMP simulators) and closed (for example, TEM cells) structures, which can be further classified as one-, two-, or multi-port TEM waveguides. The frequency ran

Ämnesområden

Utsändning (33.100.10) Immunitet (33.100.20)

Rabatt	- EUR	- SEK
Summa	EUR	SEK
Frakt	EUR	SEK
Moms	EUR	SEK
Totalt	EUR	SEK

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides

Ämnesområden

Produktinformation

Inom samma område